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OPHIR激光光束测量仪BW-NIR-2-5数字化信号
浏览次数:169发布日期:2024-01-25

Ophir Optronics成立于1976年,专注于精密红外光学、光电子仪表和3D非接触式测量设备领域。该公司开发,生产和销售高品质的产品是基于先进的技术,并素以质量和可靠性而被熟知。

Ophir Optronics总部设在耶路撒冷,子公司设在美国(马萨诸塞州和犹他州)和以色列,并且在美国,日本和欧洲皆设立有销售办事处,并且是加利福尼亚州尔湾Newport公司(NASDAQ NEWP)的一部分。

Ophir Optronics主要产品:

激光功率&能量计

传感器取景器

仪表仪

功率/位置/尺寸传感器

激光功率传感器、激光光电传感器、激光热电传感器、光功率计、太赫兹激光测量、LED测量

激光能量传感器

光电二极管能量传感器、激光热释电能量传感器

电源/能量计

PC接口

激光光束分析仪

基于摄像头的分析仪Spiricon

OEM产品

主要型号:

3A-QUAD、3A-P-QUAD、50(150)A-BB-26-PPS、F150A-BB-26-PPS、PE9-C、PE10-C、PE10BF-C、PE25-C、PE25BF-C、PE50-C、PE50BF-C、PE50-DIF-C、PE25BF-DIF-C、PE50BF-DIF-C、PE50BF DIFH-C、PE50BB-DIF、PE100BF-DIF-C、IPLEX FX、IPLEX RX/ IPLEX RT、IPLEX UltraLite、IPLEX TX、IPLEX YS、IPLEX长管检测解决方案、IPLEX MX II、IPLEX LX/ IPLEX LT

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该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器,准确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行分析。

性能特点

  • 位置和光束大小达到亚微米级精度

  • 易于使用的集成软件包

  • 一个软件包中包含单个和多个光束分析标准

  • 可软件控制的扫描速度(更新率)

  • 采用峰值-连接算法用于脉冲光束测量

  • USB2或PCI接口和数字探头控制

  • 12位数字化信号

  • 采用ActiveX自动化与其他软件包通信

  • 可选硅和锗扫描头的功率计

  • 可提供硅、锗和热释电探测器

技术参数

产地:美国

传感器类型:Silicon

光谱范围:190-1100 nm

狭缝尺寸:1.8 µm

孔径尺寸:3.5 mm

光束尺寸:7 µm - 2.3 mm

扫描头尺寸:83 mm

功率范围:10 nW - 10 W

通信:USB 2.0

软件:NanoScan Standard

兼容的光源:CW, Pulsed >25 kHz